2024年1月24日~26日開催のエレクトロニクス検査・試験・測定展「エレクトロテスト ジャパン」に、「画像処理検査【URCP】」を出展いたします。
それに先立ち、当社ブースの見どころや、展示予定のソリューションを一足先にご紹介いたします。ご来場前の予習に、また、遠方やご多忙でご来場予定のない場合は、オンライン展示会の気分でご視聴いただけると思います。
展示予定ソリューションのうち、特にお勧めしたいソリューションをピックアップし、導入事例や実績もご紹介いたします。当社初公開の事例で、本セミナーでしか聞けない内容となるかもしれません。
また、各ソリューションの活用シーンも、ご提案させていただきます。
外観検査の市場規模は拡大傾向にある一方、品質要求の高レベル化や検査対象物の高機能化・高精細化、人手不足による検査要員不足など、生産活動を遅延させる要因は増加傾向にあります。結果、増える需要に対し生産が追いつかなくなる危険性が潜んでいます。
本セミナーでは、検査業務を効率化してリスクを回避する方法をご紹介いたします。ぜひこの機会に対策をご検討ください。
※内容の一部が変更になる場合があります。
開催日時 | 2024年1月17日(水) 10:00~10:30 |
オンライン(Zoom) | |
対象 |
• 製造業の生産技術担当者様 |
参加費 | 無料 |
定員 | 30名 |
株式会社宇部情報システム 営業企画部(担当:黒田)
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